金融界 2025 年 5 月 8 日音讯，国家知识产权局信息数据显现，意法半导体世界公司请求一项名为“低功率形式下的接触状况监测”的专利，公开号 CN119937817A，请求日期为 2024 年 10 月。

  专利摘要显现，一种接触状况监测办法有：当在低功率检测扫描形式下操作时，检测接触屏上的接触。该办法还包含：响应于检测到接触，而从低功率检测扫描形式切换到低功率自动扫描形式而且将当时事情标记为向下接触事情。该办法还包含：响应于将当时事情标记为向下接触事情，而使用确定以避免更新在进入低功率检测扫描形式时的基线。而且该办法还包含：响应于检测到接触已脱离接触屏，而免除确定，将当时事情标记为向上接触事情，从低功率自动扫描形式切换到低功率检测扫描形式，而且更新基线。